精神分裂症患者有多個腦區異常 結構磁共振成像技術、功能磁共振成像技術以及彌散張量成像技術的廣泛應用,使人們發現,精神分裂症患者額葉和顳葉的結構和功能存在異常。但遺憾的是,神經影像學的發現幾乎不能重複,這就使得這類研究結果的可靠性受到質疑。於是,研究者們改變了將精神分裂症患者僅與健康對照進行比較的研究策略,而是將不同亞型的患者、患者親屬和健康對照相比較,並采用多模態相結合等方法來尋找精神分裂症的可能生物學特征。 經調整策略,研究者們發現,首發和慢性精神分裂症患者灰質體積減少的主要腦區大致相似,主要為前扣帶、左顳上回、左顳葉內側、雙側額下回、海馬和海馬旁回、右額中回。但慢性患者腦灰質體積減少更顯著,且範圍更大(還包括島葉、丘腦、雙側額葉內側、左額中回、右顳上回和右顳葉內側)。雖然目前還無法確定這些腦區的改變是精神分裂症的病因還是伴發的病理改變,但這已表明,精神分裂症患者存在多個腦區的異常。
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