日前，成都軍區總醫院向陽、王慶鬆、鄭宇發表論文，旨在探討反複驚厥閾下癇樣放電是否可引發實驗大鼠較長時間的情緒喚醒障礙。研究表明，反複驚厥閾下癇樣放電引起了實驗大鼠持續性運動活性減少、探究行為受抑、警覺水平過高、焦慮不安狀態、環境適應能力下降、驚恐逃避反應等多種情緒喚醒障礙。該文發表在2011年第11期《中國神經精神疾病雜誌》上。
研究人員選擇6～7周齡雄性SD大鼠62隻，成組設計，隨機分為驚厥閾下癇樣放電組（subclinical epileptifor mdis charges group，SED組）、海馬快速電點燃組（hippocampal kindling group，HK組）、海馬電極埋植對照組（control of electrode group，EC組）、正常對照組（normal control group，NC組），建立大鼠反複SED動物模型，通過運動活性、探究行為、拒俘反應性、高架十字迷宮實驗，觀測電刺激停止後1、7和30d時實驗大鼠情緒喚醒水平改變。
結果與EC組相比，電刺激後7d，HK組、SED組大鼠曠場爬越行為明顯減少，後肢性站立、進入高架十字迷宮開臂次數百分比和滯留時間百分比降低，電刺激後30d上述差異仍存在，同時，HK組、SED組大鼠拒俘反應性在電刺激後30d有明顯增加。
